致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊

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致茂Chroma 36010 可程控邏輯腳位模塊

主要特色：

• 相容于PXI 3U/混合式PXI匯流排
• Date rate蕞高為100MHz
• 8個(gè)per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
• 可擴(kuò)充至64 pin
• 32M sequence command 內(nèi)存
• 17種以上的pattern sequence 指令
• Per-pin 控制架構(gòu)
• 每一腳位有 32M vector 內(nèi)存
• 每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
• 可快速切換 Waveforms 種類
• 可編寫的tri-level driver, 分辨率達(dá) 610uV
• 每個(gè)模塊皆具備高電壓驅(qū)動(dòng)器
• Per-channel PMU
• Per-channel 時(shí)間量測(cè)組件
• 支持 scan pattern 功能
• Windows 2000/XP 操作系統(tǒng)
• 支援 LabView 與 LabWindows
• 可選購(gòu)軟件 CRISP

應(yīng)用范圍

• Logic and mixed signal validation and test
• Digital pattern generator and vector capture
• Consumer IC and electronics test
• Logic test subsystem for DC and RF ATE

36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模塊，可用于特性分析、驗(yàn)證以及數(shù)字 / 混合訊號(hào) IC或電子組件測(cè)試。每個(gè)模塊包含一組Sequence Pattern Generator以及8個(gè)I/O雙向控制通道。36010多可擴(kuò)充達(dá)64組通道以符合不同用途，此外，基于per-pin的架構(gòu), 每個(gè)通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與1個(gè) PMU channel，與其他類似性能的 ATE 設(shè)備相比， 36010 可提供快速且精確的測(cè)試功能。

Sequence Pattern Generator 
36010 可程控邏輯腳位模塊提供17種以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控制pattern的執(zhí)行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 內(nèi)存，允許每行 vector 擁有獨(dú)立的sequence command 來(lái)控制 pattern的執(zhí)行流程。此外, 每個(gè)Sequence Pattern Generator 可以支持多8個(gè)Logic Pin Electronics Cards, 即表示多可支持64 個(gè)I/O channels 與8個(gè) DUT同時(shí)測(cè)試。

邏輯腳位模塊 
每張邏輯腳位卡皆采用 Chroma® PINF ICs 來(lái)達(dá)到高精準(zhǔn)的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock，包含6個(gè)可編輯的edges。至于 per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控制通道 32 組可編輯的 waveform，具有快速切換的特性。在 analog的功能中，邏輯腳位模塊具有tri-level的 driver 與 comparator，可編寫分辨率達(dá)610uV， 36010 同時(shí)配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅(qū)動(dòng)功能。另外，36010 也支持scan pattern 功能，可進(jìn)行掃描測(cè)試。

軟件 CRISP(Chroma Integrated Software Platform) 
除了支持 LabView 與 LabWindows 環(huán)境之外, Chroma® 也提供了軟件CRISP作為選擇。為了涵蓋各種IC debugging的需求，CRISP包含許多軟件模塊，CRISP的作業(yè)平臺(tái)為Microsoft Windows XP®，使用 C++ 作為測(cè)試程序語(yǔ)言，提供用戶簡(jiǎn)易、彈性化以及快速的圖形化接口軟件來(lái)符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測(cè)試程序的產(chǎn)生更為簡(jiǎn)單與快速；在 test program debugging 的場(chǎng)合，CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟件工具，包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。

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